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伴随“高容量”设备需求的日益高涨，要求设备检查装置侧也需具有高容量。支持大电流的开云网页版-开云（中国）官网插座除了具有机械耐久性高达50多万次的长寿命，还可支持DC2.5A以上的高电流。通过丰富多彩的品种扩大客户的检查范围。

支持大电流

项目	规格
间距	0.175/0.3/0.35/0.4/0.5mm 以上
行程	0.5mm 以上
接触电阻	50mΩ 以下
额定电流	DC2.5A 以上
镀层	Au

^*规格为参考值，根据定制商品而异。

各种探针和插座可根据客户的实际用途进行定制和设计。详情请咨询我们。

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通过管束结构可支持高达DC10A的电流

开云网页版-开云（中国）官网的大电流型采用单针，通过连接多个DC2.5A探针的管束结构，可支持最大高达DC10A的电流。
可用于QFN封装(Quad Flat Non-leaded package)等功率半导体的检查。

为了确保充分的弹性、并实现大电流，通过EFC特有的制造方法，在支持大电流的款型上采用了连接多个弹簧的多弹簧结构。
虽然使探针变大、变粗后可支持大电流，但相反却会使弹性变差，并导致接触精度和耐久性降低。
通过多弹簧结构，在确保与单弹簧相同导通面积的同时，以在探针内侧设置空间的设计支持大电流，并可实现流畅的动作。

[多弹簧结构]通过EFC工艺技术特有的制造方法实现多弹簧结构。在保持大电流特性的同时，还具有充分的弹性

[单弹簧结构]因要移动宽幅且高硬度的探针，所以耐久性差且易损坏。弹性较差还会影响接触精度

在低Duty环境下也可支持较大电流领域(实际值)

开云网页版-开云（中国）官网实施大电流插座的Duty比试验，并进行性能评估。开云网页版-开云（中国）官网的大电流款型具有在低Duty比(电流流通时间较短时)环境下可支持更高电流的实力。
半导体试验只是执行是否导电的检查，所以不存在大电流长时间流通的现象。如果在低Duty比环境下，开云网页版-开云（中国）官网支持大电流的款型还可用于在半导体行业被视为较大电流领域的数十A规格的功率半导体检查。请务必探讨使用开云网页版-开云（中国）官网的大电流款型。

^*为实际值，但并非保证值。

支持开尔文连接
可尽可能缩短绝缘距离并通过高密度端子配置支持大电流

在使用大电流的功率半导体开云网页版-开云（中国）官网检查中，多数客户应该都会采开尔文连接测定(四端子测定)吧。电流越大，接触电阻越高，从而难以正确测定检查对象物体的规格。开尔文连接时，会将电流测定端子与电压测定端子分开，从而不会受到引线电阻或接触电阻的影响，由此可正确测定检查对象物体的电阻。

在开尔文测定中，需使测定电流与电压的检查专用探针接触同一端子，所以为了确保安全使用，在电流测定探针与电压测定探针之间实施绝缘至关重要。开云网页版-开云（中国）官网支持大电流的款型还可提供采用备有绝缘膜的插座。
一般情况下，可用于测定的探针数量越多，可执行测定检查的电流越大。弹簧针为立方体，需要大于板形探针的贴装空间。因此，难以将多个探针推入较小端子(电极垫)执行检查。
此外，要想流通更大的电流，还需确保绝缘距离。因此，面临的课题是在普通的开尔文兼容插座上如何使多个探针接触大电流且小型封装的检查对象物体。
开云网页版-开云（中国）官网的高温兼容型叶片针为板形且小型，可使更多的检查探针接触1个端子(电极垫)。因此，支持的大电流大于普通的开尔文兼容插座。此外，由于持有绝缘膜，所以在大电流环境下使用时也不会占据大量绝缘空间，实现了省空间的设计效果。