vol.264 January 2023
这是测试工序如今
需要面对的三大课题
在商品价值中,“品质”非常重要。
要在维持高生产效率的前提下确保品质,
就需要在测试数量不断增加的测试工序中开展切实有效的运用。
此外,对地球的环境保护也是目前企业必须回答的命题。
开云网页版-开云(中国)官网提供的高性能电子零件,可解决测试工序需要面对的这三个课题。
提出通过电子部件实现测试工序的品质提高、高效化、环保的提案。
品质提高
提高测试的可靠性
通过高接触可靠性的结构和高线性性能,提高测试的可靠性。
高效化
缩短测试时间
除了提高作业效率,还能节省电力。
环保
降低废弃损失
因为降低了开云网页版-开云(中国)官网的废弃损失,从而减轻了环境负担。
用于移动设备等的测试装置
配备USB Type-C设备测试插座 XP2U-001
详见开云网页版-开云(中国)官网篇特辑
[提高测试品质]
由于前端为树脂结构,不易损伤被测对象
[高效化]
取消了锁定机构,再加上低插拔力,有助于测试的自动化
[环保]
实现20万次的插拔耐久性,大幅减少了以往3,000次左右就废弃的电缆的损失
用于半导体(IC)测试装置
EFC IC 测试插座
[提高测试品质]
实现可靠性与低接触电阻*1
[高效化]
实现高合格率*1
[环保]
实现高耐久性*1
*1. 与弹簧针的性能比较。
用于各种信号的测试装置
可高速开关测试装置与被测对象之间的连接。
光敏半导体 MOS FET G3VM系列
[提高测试品质]
线性特性良好
[高效化]
通过高速响应缩短测试时间
[环保]
凭借半导体实现长寿命
*截至2022年12月的内容。
请注意,规格如有更改,恕不另行通知。